![]() |
學(xué)校地址:湖南省 長(zhǎng)沙市 雨花區(qū) 車站南路紅花坡路口 |
![]() |
學(xué)校地址:湖南省 長(zhǎng)沙市 雨花區(qū) 車站南路紅花坡路口 |
鑒于不同牌子的硬盤(pán)有不同的故障表現(xiàn),所以要分開(kāi)來(lái)說(shuō),但是不論如何,不轉(zhuǎn)的硬盤(pán)幾乎可以肯定是電路板的問(wèn)題,而極少是馬達(dá)壞了。
MAXTOR盤(pán)
1、表現(xiàn)為轉(zhuǎn)一下就停了(美鉆1、2代),不是電路板的問(wèn)題,是FW出錯(cuò),重寫(xiě)即可。
2、表現(xiàn)為參數(shù)錯(cuò)亂,在SYSTEM CONFIGURATIONS處現(xiàn)示為NONE,同上。
3、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢在檢測(cè)硬盤(pán)處停留很久,但可正確識(shí)別硬盤(pán)ID,在SYSTEM CONFIGURATIONS處可顯示正確容量,0道壞。
4、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)后系統(tǒng)很久都沒(méi)法進(jìn)去,硬盤(pán)有壞道(系統(tǒng)問(wèn)題不在討論之列)。
5、表現(xiàn)為CMOS可以正確識(shí)別,但是自檢后顯示‘PRI DETECT FAIL’,故障同1。
6、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢在檢測(cè)硬盤(pán)處停留很久,且無(wú)法識(shí)別硬盤(pán)ID,感覺(jué)到有磁頭動(dòng)作,磁頭壞或者FW出錯(cuò)。
7、開(kāi)機(jī)后有異響,可以聽(tīng)到咔啦咔啦的聲音,磁頭或電路板故障。
8、自檢MODEL為亂碼,且在SYSTEM CONFIGURATIONS處顯示的容量不符,電路板故障(數(shù)據(jù)線問(wèn)題不在討論之列)。
9、LE盤(pán)會(huì)出現(xiàn)循環(huán)認(rèn)盤(pán)的情況,也是FW出錯(cuò),重寫(xiě)即可。
FUJITSU盤(pán)
1、表現(xiàn)為認(rèn)盤(pán)聲正常,但是開(kāi)機(jī)自檢MODEL為亂碼,且SYSTEM CONFIGURATIONS顯示為NONE,F(xiàn)W出錯(cuò),重寫(xiě)即可。
2、表現(xiàn)為認(rèn)盤(pán)聲正常,自檢MODEL正確,SYSTEM CONFIGURATIONS顯示的容量也正確,但是無(wú)法在DOS下進(jìn)行磁盤(pán)操作,如FDISK、DM、LFORMAT等等;FW出錯(cuò),糾正即可。
3、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢在檢測(cè)硬盤(pán)處停留很久,但可正確識(shí)別硬盤(pán)ID,在SYSTEM CONFIGURATIONS處可顯示正確容量,0道壞,特別說(shuō)明——這種故障極易導(dǎo)致故障1,需盡快送修。
4、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)后系統(tǒng)很久都沒(méi)法進(jìn)去,硬盤(pán)有非0道壞道。
5、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)后硬盤(pán)噹噹敲盤(pán),電路板或磁頭或FW問(wèn)題,這種故障修復(fù)率比較低。
6、表現(xiàn)為時(shí)認(rèn)時(shí)不認(rèn),電路板和FW的問(wèn)題。
7、表現(xiàn)為使用過(guò)程中噹噹敲盤(pán),電路板或FW問(wèn)題。
IBM盤(pán)
1、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢時(shí)發(fā)出吱吱聲,存在兩種可能,第一是0道壞區(qū);第二是電路板和硬盤(pán)體接觸不良,即所謂的電路板移位問(wèn)題。
2、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)后在檢測(cè)硬盤(pán)處停留很久,且沒(méi)有檢測(cè)到硬盤(pán),但是硬盤(pán)通電后有磁頭動(dòng)作聲,LODER問(wèn)題,有些需重寫(xiě)FW。
3、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢沒(méi)有檢測(cè)到,沒(méi)有磁頭動(dòng)作聲,但是有轉(zhuǎn)動(dòng),磁頭問(wèn)題。
4、表現(xiàn)為通電后馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)不暢,電路板或馬達(dá)問(wèn)題。
5、表現(xiàn)為通電后磁頭來(lái)回掃動(dòng),電路板或馬達(dá)問(wèn)題。
6、使用過(guò)程中吱吱響,硬盤(pán)有壞區(qū)。
7、有些硬盤(pán)出現(xiàn)吱吱聲和咵啦聲,是磁頭問(wèn)題。
QUANTUM盤(pán)
1、表現(xiàn)為通電后或使用中硬盤(pán)噹噹響,大都電路板壞,CX、LD、AS盤(pán)則有可能是磁頭壞。
2、表現(xiàn)為CMOS可以正確識(shí)別,但是自檢后顯示‘PRI DETECT FAIL’,F(xiàn)W出錯(cuò),重寫(xiě)即可。
3、表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)自檢在檢測(cè)硬盤(pán)處停留很久,但可正確識(shí)別硬盤(pán)ID,在SYSTEM CONFIGURATIONS處可顯示正確容量,0道壞;或系統(tǒng)進(jìn)入很困難,硬盤(pán)前面有壞道。
|
|
關(guān)于收錄1 |
關(guān)于收錄2 |
網(wǎng)站幫助 |
廣告合作 |
下載聲明 |
友情連接 |
網(wǎng)站地圖 |
| 共有文章: 9849 篇
今日新文: 0 篇
當(dāng)前在線: