彩電高壓電源失壓檢測電路如下圖所示。該電路為單路電壓欠壓、失壓檢測電路，大多用到電壓較高的被檢測電路中。在下圖(a)電路中，被檢測電壓通過r5、r6分壓電路，接到pnp檢測管vt1的基極；被檢測電壓正常時，r6上端電壓高于檢測管的發(fā)射極電壓，通過r2加到檢測管的基極，檢測管vt1截止，不向電壓翻轉(zhuǎn)電路送啟動觸發(fā)電壓；當被檢測電源發(fā)生開路造成失去電壓或負載電路短路造成電壓過低時，r6上端電壓降低，通過r2使檢測管vt1基極電壓低于發(fā)射極電壓，檢測管vt1導通，其導通后的集電極c電壓通過隔離電阻r4，將電壓加到電壓翻轉(zhuǎn)電路，致使保護電路動作，進入保護狀態(tài)。
　　
　　在下圖(b)電路中，被檢測電壓通過r5、r6分壓電路，接到pnp檢測管vt1的基極，其發(fā)射極接微處理器的“pro”引腳。被檢測電壓正常時，r6上端電壓高于檢測管的發(fā)射極電壓，通過r2加到檢測管的基極，檢測管vt1截止，vt1的發(fā)射極為高電平，微處理器的“pro”引腳保持高電平，不采取保護措施。當被檢測電源發(fā)生開路造成失去電壓或負載電路短路造成電壓過低時，r6上端電壓降低，通過r2使檢測管vt1基極電壓低于發(fā)射極電壓，檢測管vt1導通，其導通后的發(fā)射極變?yōu)榈碗娖剑妷和ㄟ^隔離電阻r4，將微處理器的“pro”引腳拉為低電平，微處理器判斷被檢測電路發(fā)生失壓故障，進入保護狀態(tài)。
　　
　　下圖(c)集電極c或微處理器的“pro”引腳為測試點。正常時為vt1的集電極c為低電平，檢測到失壓故障時，集電極c變?yōu)楦唠娖健Ｎ⑻幚砥鞯?ldquo;pro”引腳正常時為高電平，檢測到失壓故障時，變?yōu)榈碗娖健?/p>

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