從設計上延長手機電池壽命

    好像手機電池之壽命還不夠短，如果處理不好漏泄功率之話，頻繁之充電可能會成為向高級處理系統之升級之障礙。 

　　正常操作時，當某個ic設備 處于激活狀態（比如當某人正在使用手機打電話）時，它會產生動態功率。當該設備被關閉時，漏泄功率仍能將電池耗盡。在180、130、甚至90納米工藝中，漏泄功率只就是動態功率之一小部分，這樣當電池繼續被消耗時，消耗速率極低。 

　　zenasis technologies之首席技術官兼董事會主席jay roy介紹說，以65與45納米工藝生產出之設備，漏泄功率相當大。 

　　比如，如果一部手機三天沒有充電而且仍能使用，假設每小時通話15分鐘，如果漏泄功率翻一倍之話，電話之使用壽命會降到兩天甚至更短。 

　　此外，如今手機設計中功率之高集中度導致設備自己發熱，再加上設備之互連，使得芯片中溫度變化顯著。而包裝技術也對降低這種變化沒有能為力，盡管他們能降低芯片之平均溫度。gradient電子設計自己化公司創始人、總裁兼ceo rajit chandra解釋道。 

　　“溫度之變化會極大程度地影響設備性能之發揮，特別就是在模擬電話中；同時電線中之電遷移也會由于溫度上升而增加，從而從根本上降低產品壽命�！彼f。 

　　此外，由于越來越多地采用電池供電之便攜式電子系統，以及包裝成本之不斷增加，導致市場對那些在 低程度地消耗功率同時又能提供高性能之集成電路之需求迅猛增長。magma設計實施業務部門之產品經理arvind narasimhan表示。 

　　這些問題給努力滿足功率預算之設計小組帶來了大麻煩，因為對于電子沒有線設備而言，通話時間、玩游戲與播放音樂之時

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